（一）插拔力測試 目的：驗證連接器的插拔力是否符合產(chǎn)品規(guī)格要求 原理：將連接器按規(guī)定速率進行完全插合或拔出，記錄相應(yīng)的力值
（二）耐久性測試 目的：評估反復(fù)插拔對連接器的影響，模擬實際使用中連接器的插拔狀況 原理：按照規(guī)定速率連續(xù)插拔連接器直至達到規(guī)定次數(shù)。
（三）絕緣電阻測試 目的：驗證連接器的絕緣性能是否符合電路設(shè)計的要求或經(jīng)受高溫，潮濕等環(huán)境應(yīng)力時，其阻值是否符合有關(guān)技術(shù)條件的規(guī)定。 原理：在連接器的絕緣部分施加電壓，從而使絕緣部分的表面或內(nèi)部產(chǎn)生漏電流而呈現(xiàn)出來的電阻值。
（四）耐電壓測試 目的：驗證連接器在額定電壓下是否能安全工作，能否耐受過電位的能力，從而評定連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合適原理：在連接器接觸件與接觸件之間，接觸件與外殼之間施加規(guī)定電壓并保持規(guī)定時間，觀察樣品是否有擊穿或放電現(xiàn)象。
（五）接觸電阻測試 目的：驗證電流流經(jīng)接觸件的接觸表面時產(chǎn)生的電阻值 原理：通過對連接器通規(guī)定電流，測量連接器兩端電壓降從而得出電阻值
（六）振動測試： 目的：驗證振動對電連接器及其組件性能的影響 振動類型：隨機振動，正弦振動
（七）機械沖擊測試 目的：驗證連接器及其組件耐沖擊的能力或評定其結(jié)構(gòu)是否牢固 測試波形：半正弦波，方波
（八）冷熱沖擊測試 目的：評估連接器在急速的大溫差變化下，對于其功能品質(zhì)的影響
（九）溫濕度組合循環(huán)測試 目的：評估連接器在經(jīng)過高溫高濕環(huán)境儲存后對連接器性能的影響
（十）高溫測試 目的：評估連接器暴露在高溫環(huán)境中于規(guī)定時間后端子和絕緣體性能是否發(fā)生變化
（十一）鹽霧測試 目的：評估連接器，端子，鍍層耐鹽霧腐蝕能力